考种分析仪恒美可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
更新时间：2023-08-02 访问次数：597
千粒重仪可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
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恒美考种系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
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恒美玉米考种分析系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
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自动考种分析仪及千粒重系统可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
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智能考种仪可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型（包括长、宽、长宽比、周长、面积），利用图像ORC 识别技术、图像定位、空间转换等技术实现快速识别种子数量及作物性状指标。
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